電池知識
鋰離子、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、新能源
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鋰離子、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、新能源
在電路設計中，開關電源掌控著開關管的開通和關斷的時間比率，在電路中發揮著最基礎但是又不可取代的作用。正因為非常緊要，所以開關電源的探測也變得異常緊要。在本文中，筆者具體解析了開關電源要探測的32個探測項以及探測所需的工具、探測辦法和波形。
1、功率因素和效率探測
一、目的：
探測S.M.P.S.的功率因素POWERFACTOR,效率EFFICIENCY(規格依客戶要求設計)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).DIGITALVOLTAGEMETER(DVM)/數字式電壓表；
(4).ACPOWERMETER/功率表。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).依規格設定探測條件:輸入電壓,頻率和輸出負載；
(2).從POWERMETER讀取PinandPF值,并讀取輸出電壓,計算Pout；
(3).功率因素=PIN/(Vin*Iin),效率=Pout/Pin*100%。
五.探測回路圖：
2.能效探測
一、目的：
探測S.M.P.S.能效值是不是滿足相應的各國能效等級標準要求(規格依各國標準要求含義)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表。
三.探測條件：
(1).輸入電壓條件為115Vac/60Hz和230Vac/50Hz與220Vac/50Hz/60Hz條件；
(2).輸出負載條件為空載、1/4max.load、2/4max.load、3/4max.load、max.load五種負載條件。
四、探測辦法：
(1).在探測前將產品在在其標稱輸出負載條件下預熱30分鐘；
(2).按負載由大到小順序分別記錄115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時的輸入功率(Pin),輸入電流(Iin),輸出電壓(Vo),功率因素(PF)，然后計算各條件負載的效率；
(3).在空載時僅需記錄輸入功率(Pin)與輸入電流(Iin)；
(4).計算115Vac/60Hz與230Vac/50Hz時的四種負載的均勻效率,該值為能效的效率值。
五、標準含義：
CEC/美國EPA/澳大利亞及新西蘭的能效規格值標準(IV等級)。
(1).IV等級效率的規格是:1).Po1W,AverageEff.0.5*Po；
(2).1lePole51W,AverageEff.0.09*Ln(Po)+0.53).Po51,AverageEff.0.85；
(3).輸入空載功率的規格是:1).0Pole250W,Pinle0.5W；
(4).Po為銘牌標示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積；
(5).實際探測的均勻效率值和輸入空載功率值需同時滿足規格要求才可符合標準要求。
六、計算辦法舉例：
(1).12V/1A的能效效率=(0.09*ln12+0.5)*100%=(0.09*2.4849+0.5)*100%=72.36%；
(2).輸入功率le0.5W；
3.輸入電流探測
一、目的：
探測S.M.P.S.之輸入電流有效值INPUTCURRENT(規格依客戶要求設計)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).依規格設定探測條件:輸入電壓,頻率和輸出負載；
(2).從功率計中記錄ACINPUT電流值。
4.浪涌電流探測
一、目的：
探測S.M.P.S.輸入浪涌電流INRUSHCURRENT,是不是符合SPEC.要求。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
(1).依SPEC.所要求(通常含義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz)。
四、探測辦法：
(1).依SPEC.要求設定好輸入電壓,頻率,將待測品輸出負載設定在MAX.LOAD；
(2).SCOPECH2接CURRENTPROBE,用以量測INRUSHCURRENT,CH1設定在DCMode,VOLTS/DIV設定視情況而定,CH1作為SCOPE之TRIGGERSOURCE,TRIGGERSLOPE設定為+,TIME/DIV以5mS為較佳,TRIGGERMODE設定為NORMAL；
(3).CH1則接到AC輸入電壓；
(4).以上設定完成后POWERON,找出TRIGGER動作電流值(AT90o或270oPOWERON)。
五、留意事項：
(1).冷開機(COLD-START):需在低(常)溫環境下且BULKCap.電荷須放盡,以及熱敏電阻亦處于常溫下,然后僅能第一次開機,若需第二次開機須再待電荷放盡才可再開機探測；
(2).OSCILLOSCOPE需使用隔離變壓器。
六、探測回路圖：
5.電壓調整率探測
一、目的：
探測S.M.P.S.OUTPUTLOAD一定而ACLINE變動時,其輸出電壓跟隨變動之穩定性(常規含義le1%)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).DIGITALVOLTAGEMETER(DVM)/數字式電壓表。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).依規格設定探測負載LOAD條件；
(2).調整輸入電壓ACLINE和頻率FREQUENCY值；
(3).記錄待測品輸出電壓值是不是在規格內；
(4).Linereg.=(輸出電壓的最大值(Vmax.)-輸出電壓的最小值(Vmin.))/Vratevolt.*100%。
五.留意事項：
(1).探測前先將待測品熱機,待其輸出電壓穩定后再進行探測；
(2).電壓調整率值是輸出負載不變,輸入電壓變動時計算的值。
6.負載調整率探測
一、目的：
探測S.M.P.S.在ACLINE一定而OUTPUTLOAD變動時,其輸出電壓跟隨變動之穩定性(常規含義le5%)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).DIGITALVOLTAGEMETER(DVM)/數字式電壓表。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).依規格設定探測輸入電壓ACLINE和頻率FREQUENCY值；
(2).調整輸出負載LOAD值；
(3).記錄待測品輸出電壓值是不是在規格內；
(4).Loadreg.=(輸出電壓的最大/小值(Vmax/min.)-輸出電壓的額定值(Vrate))/Vratevolt.*100%。
五.留意事項：
(1).探測前先將待測品熱機,待其輸出電壓穩定后再進行探測；
(2).負載調整率值是輸入電壓不變,輸出負載變動時計算的值。
7.輸入緩慢變動探測
一、目的：
驗證當輸入電壓偏低情形發生時,待測品需能自我保護,且不能有損壞現象。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表。
三.探測條件：
(1).依SPEC.要求:設定輸入電壓為90Vac或180Vac和輸出負載Max.load。
四、探測辦法：
(1).將待測品與輸入電源和電子負載連接好,且設定好輸入電壓和輸出負載；
(2).逐步調降輸入電壓,每次3Vac/每分鐘；
(3).記錄電壓值(包括輸入電壓和輸出電壓),直到待測品自動當機為止；
(4).設定好輸入電壓為0Vac,逐步調升輸入電壓,每次3Vac/每分鐘,直到待測品輸出電壓達到正常規格為止,記錄電壓啟動時輸出電壓和輸入電壓值。
五、留意事項：
(1).待測品在正常操作情況下不應有任何不穩動作發生,以及失效情形；
(2).產品當機和啟動時的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值。
8.紋波及噪聲探測
一、目的：
探測S.M.P.S.直流輸出電壓之紋波RIPPLE及噪聲NOISE(規格含義常規為le輸出電壓的1%)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3)OSCILLOSCOPE/示波器；
(4)TEMP.CHAMBER/溫控室。
三.探測條件：
各種LINE和LOAD條件及溫度條件,各種輸入電壓amp輸出負載(Min.-MAX.LOAD)。
四、探測辦法：
(1).按探測回路接好各探測儀器,設備,以及待測品,探測電源在各種LINE和LOAD,及溫度條件之RIPPLEampNOISE(下圖為一典型輸出RIPPLEampNOISEA:RIPPLE+NOISEB:RIPPLEC:NOISE。
五、留意事項：
(1).探測前先將待測輸出并聯SPEC.規定的濾波電容,(通常為10uF/47uF電解電容或鉭電容及0.1uF陶瓷電容)頻寬限制依SPEC.而定(通常為20MHz)；
(2).應避免示波器探頭本身干擾所萌生的雜訊。
9.上升時間探測
一、目的：
探測S.M.P.S.POWERON時,各組輸出從10%~90%POINT之上升時間(常規含義為le20mS)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).依規格設定ACVOLTAGE,FREQUENCYANDLOAD；
(2).SCOPE的CH1接Vo,并設為TRIGGERSOURCE,LEVEL設定在Vo的60%~80%較為妥當,TRIGGERSLOPE設定在+,TIME/DIV和VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定；
(3).用CURSOR中TIME,量測待測品各組輸出從電壓10%至90%之上升時間。
五.留意事項：
探測前先將待測品處于冷機狀態,待BUCKCap.電荷放盡后進行探測。
10.下降時間探測
一、目的：
探測S.M.P.S.POWERON時,各組輸出從90%~10%POINT之下降時間(常規含義5mS)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).依規格設定ACVOLTAGE,FREQUENCYANDLOAD；
(2).SCOPE的CH1接Vo,并設為TRIGGERSOURCE,LEVEL設定在Vo的60%~80%較為妥當,TRIGGERSLOPE設定在-,TIME/DIV和VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定；
(3).用CURSOR中TIME,量測待測品各組輸出從電壓90%至10%之下降時間。
五.留意事項：
探測前先將待測品熱機,待其輸出電壓穩定后再進行探測。
11.開機延遲時間探測
一、目的：
探測S.M.P.S.POWERON時,輸入電壓ACLINE與輸出之時間差(常規含義為le3000mS)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).探測時依規格設定ACLINE,FREQUENCY和輸出負載(一般LOWLINEampMAX.LOAD時間最長)；
(2).OSCILLOSCOPE的CH1接Vo為TRIGGERSOURCE,CH2接ACLINE；
(3).TRIGGERLEVEL設定在Vo的60%~80%間較為妥當,TRIGGERSLOPE設定在+,VOLTS/DIV和TIME/DIV則視實際情況而定；
(4).用CURSOR中TIME,量測ACON至VoLOWLIMIT之時間差。
五.留意事項：
(1).探測前先將待測品處于冷機狀態,待BULKCap.電荷放盡后進行探測；
(2).示波器(OSCILLOSCOPE)需使用隔離變壓器。
12.關機維持時間探測
一、目的：
探測S.M.P.S.POWEROFF時,輸入電壓ACLINE與輸出OUTPUT之時間差(常規含義10mS/115Vacamp20mS/230Vac)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).探測時依規格設定ACLINE,FREQUENCY和輸出負載；
(2).OSCILLOSCOPE的CH1接Vo為TRIGGERSOURCE,CH2接ACLINE；
(3).TRIGGERLEVEL設定在Vo的60%~80%間較為妥當,TRIGGERSLOPE設定在-,VOLTS/DIV和TIME/DIV則視實際情況而定；
(4).用CURSOR中TIME,量測ACON至VoLOWLIMIT之時間差；
五.留意事項：
(1).探測前先將待測品熱機,待其輸出電壓穩定后再進行探測；
(2).示波器(OSCILLOSCOPE)需使用隔離變壓器。
13.輸出過沖幅度探測
一、目的：
探測S.M.P.S.POWERON時,輸出DCOUTPUT過沖幅度變化量(常規含義為le10%)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
依SPEC.所要求,輸入電壓范圍與輸出負載(Min.Max.load)。
四、探測辦法：
(1).探測時依規格設定ACLINE,FREQUENCY和輸出負載；
(2).OSCILLOSCOPE的CH1接Vo為TRIGGERSOURCE；
(3).TRIGGERLEVEL設定在Vo的60%~80%間較為妥當,TRIGGERSLOPE設定在+和-,VOLTS/DIV和TIME/DIV則視實際情況而定；
(4).用CURSOR中VOLT,量測待測品輸出過沖點與穩定值之關系；
(5).ON/OFF各做十次,過沖幅度%=△V/Vo*100%。
五、留意事項：
產品在CC與CR模式都需滿足規格要求。
14.輸出暫態應和探測
一、目的：
探測S.M.P.S.輸出負載快速變化時,其輸出電壓跟隨變動之穩定性(規格含義電壓最大與最小值不超過輸出規格的10%)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
依SPEC.所規定:輸入電壓ACLINE,變化的負載LOAD,頻率及升降斜率SR/F值。
四、探測辦法：
(1).探測時設定好待測品輸入電壓ACLINE和頻率FREQUENCY；
(2).探測時設定好待測品輸出條件:變化負載和變化頻率及升降斜率；
(3).OSCILLOSCOPECH1接到OUTPUT偵測點,量其電壓之變化；
(4).CH2接CURRENTPROBE探測輸出電流,作為OSCILLOSCOPE之TRIGGERSOURCE；
(5).TRIGGERMODE設定為AUTO.。
五、留意事項：
(1).留意使用CURRENTPROBE時,每改變VOLTS/DIV刻度PROBE皆須歸零ZERO；
(2).須常常對CURRENTPROBE進行消磁DEGAUSS和歸零ZERO。
15.過流保護探測
一、目的：
探測S.M.P.S.輸出電流過高時是不是保護,保護點是不是在規格要求內,及是不是會對S.M.P.S.造成損傷(常規含義過流點為輸出額定負載的1.2-2.5倍/CV模式產品初外)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器；
三.探測條件：
依SPEC.所規定:輸入電壓ACLINE和電子負載。
四、探測辦法：
(1).將待測組輸出負載設在MAX.LOAD；
(2).以一定的斜率(通常為1.0A/S)遞增,加大輸出電流直至電源保護,當保護后,將所加大之電流值遞減,視其輸出是不是會自動RECOVERY；
(3).OSCILLOSCOPECH2接上CURRENTPROBE,以PROBE測試輸出電流；
(4).CH1則接到待測輸出電壓,作為OSCILLOSCOPE之TRIGGERSOURCE；
(5).TRIGGERSLOPE設定為-,TRIGGERMODE設定為AUTO,TIME/DIV視情況而定。
五、留意事項：
(1).留意使用CURRENTPROBE時,每改變VOLTS/DIV刻度PROBE皆須歸零ZERO；
(2).須常常對CURRENTPROBE進行消磁DEGAUSS和歸零ZERO；
(3).產品不能有安全危險萌生。
16.短路保護探測
一、目的：
探測S.M.P.S.輸出端在開機前或在工作中短路時,產品是不是有保護功能。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器；
(4).低阻抗短路夾。
三.探測條件：
依SPEC.所規定:輸入電壓ACLINE和負載LOAD值和低阻抗短路夾。
四、探測辦法：
(1).依規格設定探測條件:輸入電壓ACLINE和負載LOAD值(一般為MAX.LOAD)；
(2).各組輸出相互短路或對地短路,偵測輸出特性；
(3).開機后短路TURNONTHENSHORTamp短路后開機SHORTTHENTURNON各十次。
五、留意事項：
(1).當SHORTCIRCUIT排除之后,測試待測品是不是自動恢復或需重新啟動(視SPEC要求),并探測產品是不是正常或有無零件損壞(產品要求應正常)；
(2).產品不能有安全危險萌生。
17.過壓保護探測
一、目的：
探測S.M.P.S.輸出電壓過高時是不是保護,保護點是不是在規格要求內,及是不是會對S.M.P.S.造成損傷(常規含義:Vout12V,過壓保護點為1.8倍輸出電壓Vout12V,.過壓保護點為1.5倍輸出電壓)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器；
(4).DCSOURCE/直流電源。
三.探測條件：
依SPEC.所規定:輸入電壓ACLINE和負載LOAD值。
四、探測辦法：
(1).探測方式一:拿掉待測品回授FEEDBACK,找出過壓保護OVP點；
(2).探測方式二:外加一可變電壓于操作待測品的輸出,緩慢增大電壓值,找出過壓保護OVP點；
(3).OSCILLOSCOPECH1接到OVP偵測點,測量其電壓之變化；
(4).CH2則接到其它一組輸出電壓,作為OSCILLOSCOPE之TRIGGERSOURCE；
(5).TRIGGERSLOPE設定為-,TRIGGERMODE設定為NORMAL。
五、留意事項：
產品不能有安全危險萌生。
18.重輕載變化探測
一、目的：
探測S.M.P.S.的輸出負載在重輕載切換時對輸出電壓的影響(規格含義電壓最大與最小值不超過輸出規格的10%)。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
依SPEC.所規定:輸入電壓ACLINE和負載LOAD(MIN.ANDMAX.)值。
四、探測辦法：
(1).依規格設定ACVOLTAGE,FREQUENCYANDLOAD(MAX.LOAD和MIN.LOAD)；
(2).SCOPE的CH1接Vo,并設為TRIGGERSOURCE,LEVEL設定在Vo的90%~100%較為妥當,TRIGGERSLOPE設定在+,VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定；
(3).TIME/DIV設定為1S/DIV或2S/DIV,為滾動狀態；
(4).在輸入電壓穩按時,變化輸出負載(最大/最小)；
(5).在設定電壓下探測輸出電壓的最大和最小值。
五、留意事項：
無
19.輸入電壓變動探測
一、目的：
探測S.M.P.S.的輸入電壓在規格要求內變動時,是不是會對S.M.P.S.造成損傷或輸出不穩定。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器。
三.探測條件：
依SPEC.所規定:輸入電壓ACLINE和負載LOAD值。
四、探測辦法：
(1).將待測輸出負載設在MAX.LOAD和MIN.LOAD；
(2).TRIGGERSLOPE設定為+,TRIGGERMODE設定為AUTO,TIME/DIV視情況而定1S/DIV或2S/DIV；
(3).變動輸入電壓,如:90Vac-180Vac115Vac-230Vac132Vac-264Vac0-90Vac0-264Vac；
(4).探測輸出電壓在輸入電壓變動時的最大值和最小值。
五、留意事項：
輸出電壓變動的范圍應在規格電壓要求內。
20.電源開關循環探測
一、目的：
探測S.M.P.S.是不是能承受繼續開關操作下的沖擊。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).OSCILLOSCOPE/示波器；
(4)POWERON/OFFTESTER/電源開關探測儀。
三.探測條件：
(1).輸入電壓:115Vac/230Vac輸出負載:滿載；
(2).ON/OFF時間:ON5秒/OFF5秒ON/OFFCYCLE：ATLEAST5000CYCLE；
(3).環境溫度:室溫。
四、探測辦法：
(1).連接待測品到電源開/關探測儀及電源.(115Vac和230Vacamp滿載,或依客戶規格執行)；
(2).S.M.P.SOFF5秒及ON5秒為一周期,總共探測周期:5000CYCLES；
(3).探測過程中每完成1000周期時,記錄產品的輸入功率和輸出電壓；
(4).待實驗結束后,確定待測品在實驗前后電氣性能是不是有差異。
五、留意事項：
探測過程中或探測完成階段,待測品都需能正常操作且不應有任何性能降低情況發生。
21.元件溫升探測
一、目的：
探測S.M.P.S.在規格操作環境,電壓,頻率和負載條件時,元件的溫升狀況。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).HYBRIDRECORDER/混合記錄儀(DR130)；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室。
三.探測條件：
依SPEC.規定:輸入電壓ACLINE,頻率FREQUENCY,輸出負載LOAD及環境溫度。
四、探測辦法：
(1).依線路情況先確定溫升較高的元件,后用溫升線粘貼所確定的元件；
(2).依規格設定好探測條件(ACLINEANDOUTPUTLOAD)再開機,并記錄輸入功率和輸出電壓；
(3).用混合記錄儀HYBRIDRECORDER記錄元件的溫升曲線,待元件溫升完全穩定后打印結果,并記錄輸入功率和輸出電壓。
五、留意事項：
(1).溫升線耦合點應盡量貼著元件探測點,溫升線走勢應盡量避免影響S.M.P.S元件的散熱；
(2).探測的樣品應模擬其實際的或在系統中的擺放狀態；
(3).針關于無風扇(NOFAN)的產品,探測時應盡量避免外界風流動對它的影響。
22.高溫操作探測
一、目的：
探測高溫環境對S.M.P.S.操作過程中的結構,元件及整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室；
(5).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
(1).依SPEC.要求:輸入條件(RATEDVOLTAGE),輸出負載(FULLLOAD)和操作溫度OPERATIONTEMP(通常為溫度:40℃)；
(2).實驗時間:4Hrs。
四、探測辦法：
(1).將待測品置于溫控室內,依規格設定好輸入輸出探測條件,然后開機；
(2).依規格設定好溫控室的溫度和濕度,然后啟動溫控室；
(3).按時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是不是有異常；
(4).做完探測后回溫到室溫,再將待測品從溫控室中移出,在常溫環境下至少恢復4小時。
五、留意事項：
(1).產品實驗期間與實驗后,產品性可不可以出現降級與退化現象；
(2).實驗后產品的介電強度與絕緣電阻探測需符合規格書要求。
23.高溫高濕儲存探測
一、目的：
探測高溫高濕儲存環境對S.M.P.S.的結構,元件及整機電氣的影響,以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室；
(5).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
儲存高溫高濕條件:通常為溫度702℃,濕度90-95%實驗時間24Hrs(非操作條件)。
四、探測辦法：
(1).實驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況；
(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,依規格設定其溫度和濕度,然后啟動溫控室；
(3).實驗24Hrs,實驗結束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認待測品外觀,結構及電氣性能是不是有異常。
五、留意事項：
(1).產品實驗期間與實驗后,產品性可不可以出現降級與退化現象；
(2).實驗后產品的介電強度與絕緣電阻探測需符合規格書要求。
24.低溫操作探測
一、目的：
探測低溫環境對S.M.P.S.操作過程中的結構,元件及整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室；
(5).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
(1).依SPEC.要求:輸入條件(RATEDVOLTAGE),輸出負載(FULLLOAD)和操作溫度(OPERATIONTEMP.),通常溫度為:(0℃)；
(2).實驗時間:4Hrs。
四、探測辦法：
(1).將待測品置于溫控室內,依規格設定好輸入輸出探測條件,然后開機；
(2).依規格設定好溫控室的溫度,然后啟動溫控室；
(3).按時記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是不是有異常；
(4).做完探測后將待測品從溫控室中移出,在常溫環境下恢復至少4小時,然后確認其外觀和電氣性能有無異常。
五、留意事項：
(1).產品實驗期間與實驗后,產品性可不可以出現降級與退化現象；
(2).實驗后產品的介電強度與絕緣電阻探測需符合規格書要求。
25.低溫儲存探測
一、目的：
探測低溫儲存環境對S.M.P.S.的結構,元件及整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室；
(5).HI-POTTESTER/高壓探測儀；
三.探測條件：
儲存低溫條件:通常為溫度-30℃,實驗時間24Hrs(非操作條件)。
四、探測辦法：
(1).實驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況；
(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,依規格設定其溫度,然后啟動溫控室；
(3).實驗24Hrs,實驗結束后在空氣中放置至少4Hrs,再將待測品做HI-POT探測,記錄探測結果,之后確認待測品的外觀,結構及電氣性能是不是有異常。
五、留意事項：
(1).產品實驗期間與實驗后,產品性可不可以出現降級與退化現象；
(2).實驗后產品的介電強度與絕緣電阻探測需符合規格書要求。
26.低溫啟動探測
一、目的：
探測低溫儲存環境對S.M.P.S.的整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載
(3).ACPOWERMETER/功率表
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室。
三.探測條件：
儲存低溫條件:通常為操作溫度0℃條件下降低到-102℃,儲存時間至少4Hrs。
四、探測辦法：
(1).實驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況；
(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,依規格設定其溫度,然后啟動溫控室；
(3).實驗溫度儲存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hzamp230Vac/50Hz和輸出最大負載條件下開關機各20次,確認待測品電氣性能是不是正常。
五、留意事項：
(1).在產品性能探測期間或探測之后,產品性可不可以出現降級與退化現象；
(2).設定的環境溫度為操作低溫的溫度再降-10度。
27.溫度循環探測
一、目的：
探測針對S.M.P.S.所有組成零件的加速性探測,用來顯露出在實際操作中所可能出現的問題。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室；
(5).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
操作溫度條件:通常為低溫度-40℃、25℃、33℃和高溫度66℃(濕度:50-90%),實驗至少24個循環。
四、探測辦法：
(1).實驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況；
(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,以無包裝,非操作狀態下；
(3).設定溫度順序為662℃保持1小時,332℃和濕度902%保持1小時,-402℃保持1小時,252℃和濕度502%保持30分鐘,為一個循環；
(4).啟動恒溫恒濕機,然后記錄其溫度與時間的圖形,監視系統所記錄的過程；
(5).實驗完成后,溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機中移出,放置樣品在空氣中4Hr再確認外觀,結構及電氣性能是不是有異常。
五、留意事項：
(1).經過冷熱沖擊實驗后產品的性能與外觀不能出現降級與退化現象；
(2).經過冷熱沖擊實驗后產品的介電強度與絕緣電阻應符合規格書要求。
28.冷熱沖擊探測
一、目的：
探測高,低溫度沖擊對S.M.P.S.的影響,用來揭露各組成元件的弱點。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).TEMP.CHAMBER/溫控室；
(5).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
(1).依SPEC.要求:儲存最高(70℃),低溫度(-30℃),探測共10個循環,高低溫轉換時間為2min；
(2).依客戶所供應的實驗條件。
四、探測辦法：
(1).在溫控室內待測品由常溫25℃向低溫通常為-30℃轉變,并低溫烘烤1Hr；
(2).溫控室由低溫-30℃向高溫通常為70℃轉變,轉變時間為2min.,并高溫烘烤1Hr；
(3).在高溫70℃和低溫-30℃之間循環10個周期后,溫度回到常溫將S.M.P.S.取出(至少恢復4小時)；
(4).確認待測品的標簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與探測前的差異。
五、留意事項：
(1).經過冷熱沖擊實驗后產品的性能與外觀不能出現降級與退化現象；
(2).經過冷熱沖擊實驗后產品的介電強度與絕緣電阻應符合規格書要求；
(3).產品為非操作條件。
29.絕緣耐壓探測
一、目的：
探測S.M.P.S.在規格耐壓和時間條件下,是不是萌生電弧ARCING,其CUTOFFCURRENT是不是滿足SPEC.要求,及是不是會對S.M.P.S.造成損傷。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
依SPEC.要求:耐壓值(4242Vdc/3000Vac)、操作時間(1minute)和CUTOFFCURRENT(3.5mA)值。
四、探測辦法：
(1).依SPEC.設定好耐壓WITHSTANDINGVOLTAGE,操作時間TIME,CUTOFFCURRENT值；
(2).將待測品與耐壓探測儀依要求連接,進行耐壓探測,觀察是不是有萌生電弧ARCING,及漏電流CUTOFFCURRENT是不是過大；
(3).耐壓探測后,確認待測品輸入功率與輸出電壓是不是正常。
五、留意事項：
(1).探測前應先設定好耐壓探測儀的探測條件,待測品的輸入與輸出分別應與探測儀接觸良好；
(2).耐壓的規格值設定參考安規要求。
30.跌落探測
一、目的：
知道S.M.P.S.由一定高度,不同面進行跌落DROP,其結構,電氣等特性的變化狀況。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
依SPEC.要求:規定的跌落高度、跌落次數和剛硬的水平面。
四、探測辦法：
(1).所有待測品需先經過電氣上的探測及目視檢查，以保證探測前沒任何可見的損壞存在；
(2).確定六個面(小-大)順序依次進行跌落；
(3).使待測品由規定的高度及項(2)所確定的探測點各進行一次跌落,每跌落一次均須對其電氣及絕緣等進行確認,記錄正常或異常結果。
31.絕緣阻抗探測
一、目的：
測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載；
(3).ACPOWERMETER/功率表；
(4).HI-POTTESTER/高壓探測儀。
三.探測條件：
(1).依SPEC.要求:施加500V直流電壓后進行探測的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規含義)。
四、探測辦法：
(1).確認好電氣性能后,在絕緣阻抗探測儀中設定好施加的電壓(500Vdc)和探測的時間(1Minute)；
(2).將待測物輸入端和輸出端分別短路連接,然后分別連接探測儀對應端進行探測；
(3).再將待測物輸入端和外殼之間分別與探測儀對應端連接進行探測；
(4).確認待測物的探測絕緣阻抗值是不是高于SPEC.要求值10MOhm。
五、留意事項：
(1).阻抗要求值依安規標準要求含義。
32.額定電壓輸出電流探測
一、目的：
探測S.M.P.S.在ACLINE及OUTPUTVOLT.一按時,其輸出電流值。
二.使用儀器設備：
(1).ACSOURCE/交流電源；
(2).ELECTRONICLOAD/電子負載。
三.探測條件：
四、探測辦法：
(1).固定輸入電壓與頻率,依條件設定CV模式下的輸出電壓；
(2).開機后待輸出穩按時記錄輸出電流值；
(3).切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時的輸出電流值；
(4).在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值。
五、留意事項：
記錄輸出電流值前待測品電流值需穩定。
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