電池知識
鋰離子、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、新能源
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鋰離子、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、新能源
穩壓器和DC-DC電源內的硅功率器件不久將會被GaNFET代替。與硅MOSFET相比，其開關速度要快得多，且RDS(on)更低。這將能加強電源的電源效率，為大家帶來益處。倘若您正在設計帶有GaN器件的電源電路，您要掌握該器件的開關速度。為測量這一速度，示波器、探頭和互連的速度非得足夠快，以盡量減少其對測量萌生的影響。
關于器件性能，我最常被問到的問題就是它們到底有多快？通常我會回答是：它們非常快，但實際上我并不了解詳盡有多快。為探明真相，我使用33GHz實時示波器和高速傳輸線探頭對其進行了測量。我將探討影響器件速度的設計限制因素及其將來的發展前景。經過這些測量，我相信我們將很快能設計出開關速度達到250MHz的電源。
圖1顯示了用來進行測量的兩個評估板。這兩個評估板都配備了一個柵極穩壓器、一個驅動器、一個脈沖調節器和兩個eGaN開關。右側的電路板是一個完整的DC-DC轉換器，其含有一個Gen4單片半橋（兩者在同一晶圓上開關），并含有一個L-C輸出濾波器。左邊的評估板在半橋配置上采用了單獨的Gen3eGaN器件，沒有L-C輸出濾波器。在這兩種情況下，外部脈沖發生器通過焊接到探測板脈寬調制（PWM）輸入的BNC連接器來供應PWM信號。在輸入電壓為5V和12V的情況下，我在各評估板上測量了開關上升時間。
圖1：這里僅在左側的電路板上配備了半橋配置，右側的電路板配備了完整的DC-DC轉換器。香蕉插座可將探測板連接至電子負載。通過BNC連接器可連接至外部脈沖發生器。
儀器和探頭要求
為確保儀器和探頭不會對測量造成重大影響，我們可以假設，能夠用和方根法把探頭、示波器和半橋的上升時間加起來。盡管這種辦法并不總是正確，但我們在最初估計中可假設這一關系成立。
測得的半橋上升時間包括示波器的上升時間和探頭的上升時間，為：
半橋的實際上升時間可按照下式確定：
為了將測量誤差限制到某個百分比K，儀器的上升時間可以與實際的上升時間關聯起來：
對K求解，儀器上升時間與實際半橋上升時間的比值為：
因此，關于這兩個例子，倘若我們希望測量結果低于5%或10%，則示波器和探頭的上升時間需分別低于FET上升時間的32%或46%。換句話說，儀器的上升時間應分別比FET上升時間快3.1或2.2倍。
測量開關性能
這里使用的示波器為帶有TeledyneLeCroyPP066傳輸線探頭的Keysight90000-X系列33GHz示波器。示波器與探頭通過50GHzHuber+SuhnerSucoflex-100電纜連接。該設置的上升時間使用20ps快沿脈沖來記錄，結果如圖2顯示。為了確保測量有效，用于進行這些測量的示波器和探頭的上升時間要比上述的最低值快得多，因此可實現完美測量。
圖2：使用配有HuberSuhnerSucoflex10050GHz電纜和TeledyneLecroyPP066傳輸線探頭的33GHzKeysightInfiniium90000-X示波器，測量得到的邊沿脈沖上升時間約為20ps。測量結果顯示，探測設置的上升時間小于27.69ps，其中包括20ps脈沖上升時間。
得到的27.69ps上升時間包括20ps的脈沖上升時間，可使用和方根法減去它來確定示波器、探頭和電纜的上升時間。在減去脈沖沿的情況下，可以完全確定設備上升時間小于27.69ps，因此我們可以用其進行保守估計。
依據此前的計算，并使用儀器上升時間27.69ps的保守估計，我們可以在K%范圍內測量半橋的上升時間。
測量設置能夠以0.5%的精度測量276ps，以0.1%的精度測量619ps。完整的儀器設置如圖3所示。
圖3：用于DC/DC轉換器的完整儀器設置展示。探測板輸入電壓調節至12V，柵極驅動調節器供電電壓為7V。右下方顯示了負載，Keysight90000-X示波器、TeledyneLecroyPP066傳輸線探頭和HuberSuhnerSucoflex100電纜等也都可以在圖上看見。
測得的性能
圖4顯示了輸出電壓約為1V和負載電流為20.0A時DC-DC轉換器的上升時間。測量是在探測板輸入電壓為5V和12V的情況下進行的。
圖4：輸入電壓為5V和12V時，在探測板上測得的上升時間分別為682.33ps和561.13ps。DC/DC轉換器的工作負載為20.0A。
測得的上升時間如圖5所示。單獨測量半橋時，也是在輸入電壓為5V和12V下進行的。
圖5：當輸入電壓為12V和5V時，所測得的上升時間分別為538.87ps和332.68ps。這只是半橋的，因此無負載。
按照此前的計算，在探頭和示波器的上升時間為27.69ps及測得的最快上升時間為332.68ps的條件下，所有四項測量結果都在0.5%精度范圍內。結果顯示在表1中。
表1，探測結果概述
這些測得的上升時間約比同等硅MOSFET快3倍，RDS(on)約為1/3。通常情況下，最終結果的效率要高3%，并且熱負荷降低。
設計限制
通過這些測量結果，您可以看出這些器件的開關速度極快，但我們仍然不了解器件的最快速度是多少，也許永遠也不會了解。鑒于我們剛測量過這些速度，怎么會這樣？有一些關鍵的限制因素是我們無法評估的，至少目前還無法評估。其中一個就是電源回路電感和較小的GaN晶體管電容之間的諧振萌生的振鈴，這在所有上升時間測量中都顯而易見。電容值是固定的，而電感至少在一定程度上（倘若不是非常分明）是由于輸入電容器和互連PCB背板的等效串聯電感（ESL）導致的。
驅動器通過PCB走線連接起來，驅動器本身的邊沿速度約為1ns，這比GaNPET開關速度要慢得多。隨著GaN技術朝材料極限發展（仍有幾個數量級），且驅動器性能加強、寄生效應減小和集成度提升成為實際，速度/性能將繼續改進。同時，GaNFET輸出電容將持續減少，從而開關速度將進一步得到提升。
這一切意味著什么
若使開關速度達到硬開關使用開關周期的1%~2%，您可以看到，開關速度可接近50MHz。今朝，限制條件是柵極驅動器的寄生元件，其不能在這樣的速度下運行。我認為，使用諧振開關拓撲結構時，DC/DC轉換器的開關速度可達到250MHz以上。盡管材料的本質限制無法和GaN器件的性能匹敵，但硅器件仍將繼續得以改善。
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